SEM: Prinsip, Karakterisasi, SE & BSE

Halo semuanya! Mari kita bahas Scanning Electron Microscope atau S-E-M. S-E-M adalah mikroskop elektron yang menghasilkan gambar dengan memindai permukaan sampel menggunakan berkas elektron terfokus.

Perhatikan prinsip kerjanya. Dari elektron gan, berkas elektron diarahkan melalui lensa magnetik menuju sampel. Prinsip utamanya adalah berkas elektron ini akan berinteraksi dengan atom-atom pada sampel tersebut.

Hasil karakterisasi sampel meliputi empat hal: pertama, topografi atau tekstur permukaan. Kedua, morfologi untuk melihat bentuk dan ukuran partikel. Ketiga, komposisi elemen penyusun sampel, dan keempat, informasi kristalografi.

Sekarang kita lihat Sekondari Elektrons atau S-E. Sinyal ini berasal dari permukaan luar sampel dan sangat sensitif terhadap detail. Kegunaan utamanya adalah menghasilkan citra topografi tiga dimensi dengan resolusi gambar sangat tinggi.

Berikutnya adalah Bek-sketered Elektrons atau B-S-E. Ini adalah elektron yang dipantulkan kembali dari dalam sampel. Intensitasnya sebanding dengan nomor atom atau zet. Kegunaan utamanya untuk kontras komposisi, di mana atom berat tampak lebih terang.

Sebagai kesimpulan, sinyal S-E digunakan untuk melihat topografi permukaan tiga dimensi, sedangkan sinyal B-S-E digunakan untuk menganalisis komposisi elemen.

Itulah dasar-dasar kerja S-E-M dalam karakterisasi material. Sampai jumpa di video berikutnya!